Het boek is momenteel niet op voorraad
Meer over het boek
Inhaltsverzeichnis1 Einleitung.2 Theoretische Grundlagen.3 Apparaturbeschreibung.4 Probensysteme und Meßablauf.5 Messungen an Oxiden im Zerstäubungsgleichgewicht.6 Tiefenprofilanalyse oxidischer Schichtsysteme.7 Zusammenfassung.Abbildungsverzeichnis.Tabellenverzeichnis.
Een boek kopen
Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen, Dieter Lipinsky
- Taal
- Jaar van publicatie
- 1995
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.