De favoriet van de lezers is momenteel uitverkocht.
Boekbeoordeling
Parameters
- 512bladzijden
- 18 uur lezen
Meer over het boek
A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.
Een boek kopen
Foundations of Measurement Volume II, Amos Tversky, David H. Krantz, R. Duncan Luce, Patrick Suppes
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2006
- product-detail.submit-box.info.binding
- (Paperback)
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
We missen je recensie hier.
- Titel
- Foundations of Measurement Volume II
- Ondertitel
- Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
- Taal
- Engels
- Uitgever
- Dover Publications
- Jaar van publicatie
- 2006
- Formaat
- Paperback
- Aantal pagina's
- 512
- ISBN10
- 0486453154
- ISBN13
- 9780486453156
- Tags
- Non-fictie, Sociale Wetenschappen, Technologie & Industrie, Wetenschap en Wiskunde, Filosofie, Psychologie, Wetenschap, Wiskunde, Technologie
- Beoordeling
- 3,35 van 5
- Aantekening
- A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.