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Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung

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Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung, Uwe Hübner

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Jaar van publicatie
1994
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