Het boek is momenteel niet op voorraad
Een boek kopen
Development of ellipsometric microscopy as a quantitative high-resolution technique for the investigation of thin films at glass-water and silicon-air interfaces, Felix Linke
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2004
- product-detail.submit-box.info.binding
- (Paperback)
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.