Het boek is momenteel niet op voorraad
Meer over het boek
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel- oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso- lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Een boek kopen
Semiconductor Interfaces: Formation and Properties, kolektiv
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2011
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.