Het boek is momenteel niet op voorraad
Parameters
Meer over het boek
"Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits" addresses the challenges posed by manufacturing imperfections in nanometer-scale VLSI technology. It combines methods from computational finance, machine learning, and actuarial risk to develop innovative solutions for efficient statistical analysis of integrated circuits in this advanced domain.
Een boek kopen
Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits, Amith Singhee, Rob A. Rutenbar
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2012
- product-detail.submit-box.info.binding
- (Paperback)
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.