Dominique Moock

Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung

Dominique Moock

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Dominique Moock Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung

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