Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer DepositionsVarun SharmaUitverkocht4,3Volgen
Evaluation of Novel Metalorganic Precursors for Atomic Layer Deposition of Nickel-based Thin FilmsVarun SharmaUitverkocht4,3Volgen
Ein Vergleich zwischen direkter und indirekter SinusaugmentationDebiprasad GhatakUitverkocht4,3Volgen