Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer DepositionsVarun SharmaUitverkocht4,5Hou mij op de hoogte
Evaluation of Novel Metalorganic Precursors for Atomic Layer Deposition of Nickel-based Thin FilmsVarun SharmaUitverkocht4,3Hou mij op de hoogte
Ein Vergleich zwischen direkter und indirekter SinusaugmentationDebiprasad GhatakUitverkocht4,3Hou mij op de hoogte
