Het boek is momenteel niet op voorraad
Parameters
Meer over het boek
This critical overview presents experimental methods for solving most frequent structural problems of mono-crystalline thin films and layered systems, including thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties.
Een boek kopen
High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers, Václav Holý
- Taal
- Jaar van publicatie
- 1999
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.