Het boek is momenteel niet op voorraad
Parameters
Meer over het boek
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.
Een boek kopen
High resolution X-ray scattering from thin films to lateral nanostructures, Ullrich Pietsch
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2004
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.