Het boek is momenteel niet op voorraad
Meer over het boek
Scientific reviews on scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy Integrates basic scientific and applicational aspects With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber Useful reference to researchers and graduate students
Een boek kopen
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology, Bharat Bhushan
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2016
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.