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Aufbau und modellbasierte Untersuchung der Übertragungs- und Abbildungseigenschaften eines Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskops für die hochauflösende Materialcharakterisierung

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Aufbau und modellbasierte Untersuchung der Übertragungs- und Abbildungseigenschaften eines Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskops für die hochauflösende Materialcharakterisierung, Jürgen Bender

Taal
Jaar van publicatie
1999
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