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InhaltsverzeichnisI. Einleitung.II. Si(Li)-Röntgendetektor-System.1. “Totzeit”-Korrektur der Röntgenmeßstrecke.2. Die Ansprechwahrscheinlichkeit des Si(Li)-Röntgendetektors.III. Nachweis von Spurenelementen.1. Bestimmung der Nachweisgrenzen.2. Suche nach superschweren Elementen in Pechblende.IV. Wirkungsquerschnitte für L-Unterschalen-Ionisierung durch Protonen.V. Emission von Röntgenstrahlung nach Beschuß dicker Targets mit schweren Ionen.VI. Winkelverteilung der L-Röntgenstrahlung nach Ionisation mit einem unpolarisierten Teilchenstrahl.VII. Zusammenfassung.Anhang 1.Anhang 2.
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Untersuchung von Röntgenstrahlung nach Anregung durch schwere Ionen, Bernd Cleff
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- Jaar van publicatie
- 1978
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- (Paperback)
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