De favoriet van de lezers is momenteel uitverkocht.
Parameters
- 496bladzijden
- 18 uur lezen
Meer over het boek
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
Een boek kopen
Atomic Force Microscopy, Greg Haugstad
- Taal
- Jaar van publicatie
- 2012
- product-detail.submit-box.info.binding
- (Hardcover)
Zodra we het ontdekt hebben, sturen we een e-mail.
Betaalmethoden
Nog niemand heeft beoordeeld.
- Titel
- Atomic Force Microscopy
- Ondertitel
- Understanding Basic Modes and Advanced Applications
- Taal
- Engels
- Auteurs
- Greg Haugstad
- Uitgever
- Wiley
- Jaar van publicatie
- 2012
- Formaat
- Hardcover
- Aantal pagina's
- 496
- ISBN10
- 0470638826
- ISBN13
- 9780470638828
- Reeks
- Tags
- Non-fictie, Wetenschap en Wiskunde, Natuurwetenschappen, Wetenschap, Verenigde Staten, Technologie, Chemie, Nanotechnologie
- Aantekening
- This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.