Bookbot

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition

Parameters

  • 238bladzijden
  • 9 uur lezen

Een boek kopen

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition, Richard C. Kebart, Raphael R. Alvarado, John F. Lontz, Graham T. Curtis, Noreen P. Kebart

Taal
Jaar van publicatie
1976,
Staat van het boek
Beschadigd
Prijs
€ 2,44

Betaalmethoden

Nog niemand heeft beoordeeld.Tarief

Titel
X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition
Taal
Engels
Jaar van publicatie
1976
Aantal pagina's
238
ISBN10
0874884438
ISBN13
9780874884432
Reeks
Tags